网站导航

技术文章

当前位置:主页 > 技术文章 > 偏光显微镜的基本原理
偏光显微镜的基本原理
更新时间:2019-07-15 点击次数:1676
  偏光显微镜必须具备以下附件:起偏镜,检偏镜,补偿器或相位片,无应力物镜,旋转载物台。
 
  偏光镜检术的方式
 
  a、正相镜检(Orthscope):又称无畸变镜检,其特点是使用低倍物镜,不用伯特兰透镜(BertrandLens),被研究对象可直接用偏振光研究。同时为使照明孔径变小,推开聚光镜的上透镜。正相镜检用于检查物体的双折射性。
 
  b、锥光镜检(Conoscope):又称干涉镜检,研究在偏振光干涉时产生的干涉图样,这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。在该方法中,用强会聚偏振光束照明。
 
  偏光显微镜在装置上的要求
 
  a、光源:好采用单色光,因为光的速度,折射率,和干涉现象由于波长的不同而有差异。一般镜检可使用普通光。
 
  b、目镜:要带有十字线的目镜。
 
  c、聚光镜:为了取得平行偏光,应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。
 
  d、伯特兰透镜:聚光镜光路中的辅助部件,这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。它可保证用目镜来观察在物镜后焦平面中形成的平涉图样。
 
  (5)偏光镜检术的要求
 
  a、载物台的中心与光轴同轴。
 
  b、起偏镜和检偏镜应处于正交位置。
 
  c、制片不宜过薄。

如果您有任何问题,请跟我们联系!

联系我们

版权所有 © 2019 英菲洛精密科技(苏州)有限公司 苏ICP备16057976号-1 技术支持:化工仪器网 管理登陆 sitemap.xml

地址:苏州吴中区太湖科技产业园研发大楼

在线客服 联系方式 二维码

服务热线

15850205405

扫一扫,关注我们